台自製半導體檢測設備 成本省一半

（中央社記者林孟汝台北22日電）因應半導體產業IC檢測需求，國研院與民間業者合作研發具備先進的線掃描光機取像及影像辨識技術的晶片瑕疵檢測設備，可降低約一半人力、設備與時間成本。

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