日本半導體設備展 愛德萬秀5G測試方案

（中央社記者鍾榮峰台北4日電）日本半導體設備展將於12月中旬登場，測試設備大廠愛德萬（Advantest）將展示5G測試應用方案，因應在下一代智慧型手機和汽車連結應用需求。

2018年日本半導體設備展將於12月12至14日在東京國際展覽中心舉辦，愛德萬測試將展出10多件先進測試解決方案，廣泛應用在行動電子設備、醫療設施、汽車、零售業及大數據等5G無線連結設備。

愛德萬測試全球行銷傳播副總裁戴維斯（Judy Davies）指出，公司今年主攻用於量測互連網路設備及5G行動通訊技術驅動設備，因應5G在下一代智慧型手機與汽車連結應用的設計需求。

展示的測試設備可針對NAND型快閃記憶體、固態硬碟（SSD）、LPDDR5及DDR5記憶體晶片、LCD驅動程式等進行測試。

愛德萬測試日前宣布將以1.85億美元外加依據特殊業績表現最高達3000萬美元的績效獎金，從Astronics Corporation購買旗下商用半導體系統級測試事業部，預計今年底前完成。

愛德萬主攻半導體自動測試設備，近年也深耕奈米和太赫茲（terahertz）技術發展，開發新興市場，近日推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及3D成像和分析工具。（編輯：郭萍英）1071204

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